多功能且易于使用的独立测试系统. 它提供了丰富的电路板检测功能, 可几乎含盖了电路板的检测能力.无论在电路板的设计验证, 生产测试, 半导体器件测试, 生产或是一般维修保养, 以及是否你的电路板是模拟还是数字的电路板, 或者是混合型的电路板.
针对您的测试要求提供的解决方案...
对于现今电子业界的快速变化,求新、求变的市场需求特性,无论是从事设计,生产,试验还是故障维修,都在向电子工程师提出各项的挑战。电子电路变得更快,更小,更便宜和更复杂。对测试和维修的成本效益也变得相对性的提高很多。因此,您的测试设备能否满足你的需求,而来应对这一连串爆发性的技术变革?如果了解到这个问题,说明你已在寻求解决方式的路上了。
尽管目前的电子技术日新月异,但其故障情形的基本性质仍是相同的:故障的集成电路(ICs) 会无法正常动作,故障的二极管会呈现开路或短路的状态,故障的电容器会呈现短路的故障现象。现今会造成电路板上故障的情况跟10年前的是相同的情形。但今天我们快速的找到这些故障点。 “高经济效益的维修工作” 的重心并不在于能不能修复电路板,而是在于需要花费多少的时间以及人力来修复一块电路板。
以经济学来说,维修费用也包括其测试设备。而BM8500电路板故障测试仪在其广泛的应用上具有相当高的成本效益。它包括了一个仪表控制软件,且易于工程师来操作使用。硬件是安装在一个包含PC的标准19寸机架式机箱中,而BM8500是一个模块化系统,因此可以为定应用进行客制化的配置。
一、BM8500电路板故障测试仪系统构成
1.系统硬件测试平台:(各个测试单元可根据测试需要扩充测试模块以达到需要的测试通道)
1)多电源数字集成电路测试单元(数字电路测试单元):可扩充:2048路测试通道;
2)模拟集成电路测试单元(模拟器件测试单元);
3)多功能仪表单元(八合一仪表单元);
4)三维立体V-I-F动态阻抗测试单元(动态阻抗测试单元)可扩充:2048路测试通道;
5)可编程程控电源单元:可根据测试需要扩充电源通道
6)硬件测试框架;
2.可编辑软件测试平台:
1)非代码编程:测试流程管理,形成流程化、标准化、信息化的测试程序;
2)代码编程:自动化、半自动化电路板整板测试,实现电路板批量化测试、电路板生产检验测试、电路板一致性分析测试。
3.测试夹具:
1)测试夹具:日常手工测试需要的夹具;
2)治具:电路板整板测试的测试工装(定制:包括:针床、接口板等)
(一)BM8500电路板故障测试仪系统硬件测试平台功能:
1.多电源数字集成电路测试单元(数字电路测试单元):可扩充:2048路测试通道;单元由ABI-6500模块*1组成
1)64*1通道(可扩充至2048通道)
2)数字器件功能测试,管脚电压,管脚连接状态,温度拐点系数,数字V-I测试
3)逻辑时序发生器
4)电路板故障查找功能
5)短路追踪(通断测量)
6)未知型号器件的判别
2.模拟集成电路测试单元(模拟器件测试单元)单元由ABI-2500模块*1组成
1)模拟器件V-I曲线测试,矩阵测试;
2)24路测试通道,2通道探笔测试,2通道同步脉冲输出,3路分立器件测试通道;
3)多种器件的V-I, V-T, I-T曲线测试;
4)模拟集成电路及分立器件测试功能。
3.三维立体V-I-F动态阻抗测试单元(动态阻抗测试单元)可扩充:2048路测试通道;单元由ABI-3400模块*1组成
1)规格:64路测试通道+4路探棒测试+4组同步脉冲,可切换为32+32路测试模式;
2)提供: V-I-F,V-T-F,V-I, V-T曲线测试;
3)矩阵测试:对管脚间的V-I(阻抗)曲线测试
4)在二维的图形上可显示该曲线各点的电气参数值(V/I):电压、电流具体数值;
5)设备可以64通道为步进扩充到2048路测试通道。
4.多功能仪表单元(八合一仪表单元)单元由ABI-6350模块*1组成
规格:集成8种常用测试仪器于一体;
1)3通道数字示波器;
2)2通道任意波形发生器;
3)2通道数字电压表;
4)1通道数字电流表;
5)1通道数字电阻表;
6)1通道频率计;
7)8通道通用I/O接口;
8)4路固定输出电源。
5.可编程程控电源单元;单元由ABI-1200模块*1组成
规格:三路可调输出,可串并联;
通道隔离;
每路提供0~±40VDC、8Amax、40Wmax
具备过压、过流保护
远端电压监测补偿功能
6.硬件测试框架
英国原产19英寸机架式含计算机(可以安装六组模块)
(二)可编程软件测试平台功能
中英文软件,可通过编程软件对模块进行操作控制
1.具有测试流程记忆功能(软件具有强大的测试流程编辑和记录功能)
2.测试流程的制定贯穿测试过程,使电路测试过程形成标准的测试流程(维修流程、生产流程、 测试流程)。可以按照测试要求,保存流程测试的步骤和数据,形成标准的测试流程。测试工艺的一致性,排除人为因素的干扰。使测试简单、容易、标准化、工艺化。
3.记录多种测试信息。软件可将标准电路板上测量到的管脚电压、连接关系、功能测试结果等信息以及V-I和V-T曲线图都存储记录到测试流程中,方便随时与其他电路板进行对比,大大简化了测试中需要重复对比的工作。
4.软件在测试流程中允许用户加入对测试步骤的文字说明、照片、Office Word、Office Excel、PDF文档、网页链接、视频等,大大提升了测试效率。
5.图形化测试库编辑器,图形化定义输入激励信号及测试记录输出的标准响应信号,快速建立元器件与电路板测试库,元器件与整板测试库扩充简单、快捷. 非专业人员可以快速扩充测试库。
6.*测试数据记录并生成自定义检测报告。系统的测试数据可以根据需要定制生成自定义测试报告。测试报告可以包含用户关注的测试数据与测试结果。生成用户测试报告,方便测试数据的保存。
7.*中文、英文测试操作软件,中文软件汉化到多级菜单(汉化版),提供免费软件的升级服务;
8.智能化编程,通过TFL编辑器,可对测试的每个步骤进行编程,TFL编辑器包括:WHILE、IF、STARTLOGDB、WRITELOGDB、SYSTEM等21个编程命令。
(三)测试夹具功能
1.测试夹具附件,包括:DIL等多种器件测试夹具1套(日常手工测试需要的夹具);
2.治具需要定制服务:电路板整板测试的测试工装(包括:针床、接口板等);
3.可选配件:SOIC测试夹具、离线测试盒、分立器件测试探笔套装等。
二、BM8500电路板故障测试仪系统功能特点
1.*硬件系统模块化设计,可根据要求扩充测试模块和测试通道。
2.*软件系统测试过程流程化设计,可以通过非编程方式实现测试过程流程化:保存流程测试的步骤和数据,形成标准的测试流程。以后的测试就
3.按照流程步骤进行测试,得出相应的结果,并形成数据对比报告。测试流程的制定贯穿测试过程,并不断完善测试流程。实时将测试经验、测试信息扩充到测试流程工艺中。完成了流程化设计的电路板可以实现人工快速、半自动化故障排查及板级系统测试,提高排故和测试效率。
4.*测试数据记录并生成自定义检测报告。系统的测试数据可以根据需要定制生成自定义测试报告。测试报告包含用户关注的测试数据与测试结果。生成用户测试报告,方便测试数据的保存。
5.*多电源数字电路测试模块具备64通道数字集成电路在线、离线功能测试(可扩充到2048通道),每个通道可以根据需要分别独立定义为:输入/电压测量、输出/信号驱动或V/I曲线测量;可进行自定义测试,器件与整板的自定义仿真测试。
6.*具备阈值电平临界点扫描测试功能,定标准板电平临界值,可以检查故障板器件的稳定性。
7.系统可对多种器件进行端口测试: V-I、V-T、V-I-F测试.二维V-I测试低达1Hz频率,三维测试频率高达到10kHz, 非常合适测试电感及高频电容器件。可设定同步脉冲信号的幅值与宽度, 进行可控硅元器件或FET的功能测试。
8.变频三维立体V-I-F测量方式,三维立体显示器件的端口特性曲线,可以查找与器件频率有关的故障。检查与频率特性有关的器件或电路板,三维立体图形测量测量方式,适合数字及模拟集成电路与电路板的测试。
9.*系统各个模块在同一个专业平台操控下同时运行,完成流程化、步骤化、标准化测试并生成自定义测试报告。
10.*集成8种测试仪器于一体:3通道数字示波器、2通道任意波形发生器、2通道数字电压表、1通道数字电流表、1通道数字电阻表、1通道频率计、8通道通用I/O接口、4路辅助电源。8种常规测试仪器可以并发操作,步骤过程可以记录存储并可对比,测试数据可以量化,并可以形成测试报告,可对电路板进行仿真测试、调试测试、一致性测试等整板测试。
11.可编程程控电源模块具备3通道隔离电源输出,电源输出由系统软件来控制,三个通道可以支持串并联以增加电压和电流的输出范围。电源供应器模块可根据流程设计,自动开启和关闭测试需的电源。电源配合其他模块使用,可实现整板测试与多电源测试的流程自动化。
12.多达上万种的数字器件测试库,测试器件库涵盖常用的器件。也可以通过图形化器件编辑器快速扩充与自定义器件测试库。可以通过图形化器件编辑器定义输入激励信号及测试输出的标准响应信号,快速批量建立元器件和整板测试库。
13.系统含有模拟器件测试库,可对放大器、比较器、二极管、三极管、晶闸管、场效应晶体管、光耦器件、AD和DA数模转换器件等模拟集成电路进行功能测试。 可进行光耦合器及继电器元器件的速度功能测试等。
14.系统可对多种器件进行端口测试:V-I、V-T、I-T测试。测试频率高达到12kHz, 非常合适测试电感及高频电容器件。可设定同步脉冲信号的幅值与宽度, 进行可控硅元器件或FET的功能测试.
BM8500电路板故障检测仪系统主要优势:
模块化设计:可以自由扩充,可拆分,可以满足不同客户的需求。模块化设计,可以拆分、组合成小仪器使用
英国abi-BM8600电路板故障检测仪模块化设计" data-lazyimg="//img.bjyyb.net/sites/55500/55730/20200706202934417.jpg@!jw1200" src="//img.bjyyb.net/grey.png?x-oss-process=image/resize,m_fixed,w_500,h_341,limit_0" title="英国abi-BM8600电路板故障检测仪模块化设计">
软件具测试流程记忆功能
BM-8500采用崭新的测试理念,测试流程的制定贯穿测试过程,使电路测试的过程形成标准的测试流程(维修流程、生产流程、检测流程)。
可以按照测试要求,保存流程测试的步骤和数据,形成标准的测试流程。
以后的测试就按照标准的流程按步骤进行测试,得出相应的结果,并形成数据对比报告。
测试工艺的一致性,排除人为因素的干扰。半熟练的工程人员只需要按部就班的依指示及图示来操作设备,便可以完成的检测工作。使测试简单、容易、标准化。
对电路板和集成电路可同时进行多种并发测试操作。
包括功能测试,V-I曲线测试,温度拐点系数测试,连接状态测试,管脚电压测试。并且提供测试结果信息,测试效率大大提高。
1)可同一时间完成多种测试,该测试提供信息丰富,节省测试时间。
2)测试项目:集成电路的功能测试、V-I曲线测量、曲线拐点温度变化系数、各个管脚电压值测量、管脚连接状态测量显示。
图形化编辑元件测试库和整板测试库
采用图形化编程,方便以后扩充元件库和电路板库,方便快捷的建立起测试库中没有的元件库。
图形化元件测试库编辑,输入输出各个测试通道的逻辑时序可以由测试者图形化自定义编辑,方便快捷建立起测试库中没有的元件库。
整板测试非常简单,通过图形化的测试库编辑器,根据电路板原理,定义输入激励信号及输出的标准响应信号,快速建立板测试库,快速批量检测电路板的功能。
可测试拐点温度变化系数
V-I曲线测试,可以观测曲线拐点温度变化系数,易于发现一些器件的非固定性故障(或称为软故障)。
具短路电阻测量功能
短路电阻测量功能:
三段低电阻测量范围,可以用图像及声音的变化来表示电阻值大小,并自动探棒校正功能。此功能可以用以检查电路板线路的电阻值,检查短路点,可判定线路阻抗及通断情况。
可逻辑电平阈值自动扫描
逻辑电平阈值自动扫描,定板系统逻辑电平阈值临界值,设定循环测试来发现不稳定的错误.
1)逻辑电平阈值自定义。可以设定非标准的逻辑电平阈值,检查不稳定的元器件。
2)逻辑电平阈值可以自动扫描,定板系统逻辑电平阈值临界值,设定循环测试来发现不稳定的错误。
逻辑电平阈值自动扫描:逻辑高低电平是一个范围,该种方法是定集成电路在板系统中能通过的电平具体数值,该数值能反映出集成电路驱动能力的下降问题,方便查找驱动能力下降的器件。
V-T模式可测量器件的开关时间特性(配合同步脉冲)
•可设定同步脉冲信号的宽度,进行可控硅元器件或FET的功能测试.
•测试时将设定好的方波同步到测试信号中,可以观测到三端器件开关时间特性的差异,图中是高频状态,器件的开关时间参数出现问题,图中的差异体现了开关时间的问题。
V-I曲线矩阵测试
分别以每个管脚为公共端进行V-I测试,可针对管脚间的阻抗曲线进行测试发现管脚间的阻抗差异,使测量的信息更丰富准确。
具有分立器件功能测试
1)模拟集成电路测试功能:可对模拟放大器、比较器、二极管、三极管、晶闸管、场效应管、场效应晶体管场效应晶体管场效应晶体管光耦器件、AD/DA数模转换器件等模拟集成电路进行功能测试.
2)可以对模拟器件的参数指标值进行在线测量:放大倍率 (AV) CTR值 (电流转换比) 、Vled (内部光二极管的导通电压值、Hfe值 (晶体的电流放大倍率)等参数值。
波套设计
八合一多功能仪表6350-示波器功能-波套
•信号波形通过对比
将波形保存成测试步骤(生成测试数据库)
变频三维立体V-I-F测量方式,三维立体显示器件的端口特性曲线,可以查找与器件频率有关的故障。检查与频率特性有关的器件或电路板。
动态阻抗分析功能,可以对图形进行电压、电流参数的测量
BM8500电路板故障检测仪规格参数:
1. 64通道数字集成电路在线、离线功能测试(可扩充到2048通道);
2. 64路测试V-I-F和V-I测试通道(扩充到2048路),4路探棒测试,4组同步脉冲;
3. 24路模拟测试通道,2路探棒实时对比测试,2通道同步脉冲信号,3路分立器件测试通道;
4. 八合一仪表工作站:3通道数字示波器、2通道任意波形发生器、2通道数字电压表、1通道数字电流表、1通道数字电阻表、4通道频率计、8通道通用I/O接口、4路辅助电源;
5. 3通道可编程电源,3个通道隔离,3个通道可进行串并联;
6. *直流电平测量范围:-20V~+20V,具备逻辑时序测试功能:输入、输出图形显示,各个通道具体逻辑时序电平值数字化显示;
7. *逻辑电平输出/驱动范围:-10V~+10V,最小调整分辨率:不大于0.1V。驱动电流/单引脚:750mA。具备逻辑电平阈值自定义功能。可以设定非标准逻辑电平阈值,检查不稳定元器件;
8. 逻辑时序发生器:不少于64通道,模式数:999个/通道;
9. *V-I-F曲线扫描频率范围:10Hz~10kHz;V-I曲线扫描频率范围:1Hz~10kHz(1Hz步进连续可调);V-I曲线扫描频率可达12kHz;
10. V-I曲线扫描电压范围:2~50Vp-p;
11. V-I曲线测试信号波形:正弦波、三角波、斜波;
12. V-I曲线测试阻抗范围:100Ω~1MΩ;
13. 测试曲线模式: V-I、V-I-F、V-T、V-T-F、I-T、矩阵;
14. *同步脉冲信号幅度:-10V~+10V,最小调整分辨率0.05V;同步脉冲输出模式:单脉冲、双脉冲、三脉冲、四脉冲、DC;宽度: 0 °~ 360 °同步脉冲时间宽度连续可调;
15. 数字存储示波器:测试通道:3通道;带宽:DC~100MHz;采样速率:500MS/s (25GS/s ERS 模式);
16. 任意波形发生器:输出频率范围:0.5Hz~25MHz;输出波形:DC、正弦波、方波、三角波、正脉冲、负脉冲;输出信号幅度:50mV~10Vp-p,分辨率10mV;
17. 频率计:频率测量范围:通道:1MHz~800MHz;输入阻抗:50Ω;电压输入范围:通道:±3.3V;
18. 电压表、电流表、电阻表。测量通道:2通道电压、1通道电流、1通道电阻。通道一、通道二电压测量范围:0~500V DC/AC rms;电流测量范围:0~10A DC/AC rms;电阻测量范围:0~10MΩ
19. 通用I/O接口:通道数:8路通用I/O通道。电压输出范围:-10V~+10V 调整分辨率10mV。电压输入范围:-12V~+12V, 分辨率1mV。提供CMOS、LVCMOS、ECL、TTL、LVTTL逻辑电平的预设值;
20. 辅助电源。电压输出:+3.3V、+5V、+12V、-12V;输出电流:+3.3V/1A、+5V/1A、+12V/100mA、-12V/100mA;
21. 三路可编程电源。输出电压范围:每通道0V~±40V DC,电源输出电流范围:0A~8A DC,功率最大40W;过压保护范围:0.5V~40.5V,过流保护:0.05A~8.5A。
22. 物理参数:
尺寸:53 (D)*44.5(w)*18(H) cm
重量:20Kg
功率:1000W
电源:220V±10V 50Hz
工作温度:(0~40)℃
工作相对湿度:(30~85)%RH
外接24寸液晶显示器